上海恒平紫外可見分光光度計(jì)（雙光束）UV2800
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UV2800系列為大屏幕掃描型雙光束紫外可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保儀器具有：高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。1.8nm帶寬具有更高的光譜分辨率，能滿足多國(guó)藥典規(guī)定。帶寬可調(diào)的UV2800S滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。
功能
光度測(cè)量：定波長(zhǎng)測(cè)試透過(guò)率、吸光度和系數(shù)吸光度測(cè)量。
光譜掃描：掃描速度可選，掃描間隔可選（0.1、0.5、1、2、5nm），峰/谷自動(dòng)檢測(cè)，圖譜縮放等功能。
定量測(cè)定：?jiǎn)尾ㄩL(zhǎng)法，1-3階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合，最多可建立9個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。
動(dòng)力學(xué)測(cè)量（時(shí)間掃描）：對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測(cè)試，測(cè)試間隔時(shí)間可選，可保存近10000個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)點(diǎn)。
UV2800S 具有四檔光譜帶寬可調(diào)（0.5、1、1.8、4nm）。
特點(diǎn)
持久的穩(wěn)定性：雙光束光學(xué)系統(tǒng)，電路系統(tǒng)，確保儀器長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定。
超低的雜散光：先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測(cè)試更準(zhǔn)確。
顯示及操作：人性化設(shè)計(jì)，主機(jī)能進(jìn)行光譜掃描，大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡(jiǎn)單方便。
燈源更換簡(jiǎn)單方便：法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu)，更換氘燈無(wú)需專用工具，免去換燈時(shí)光路調(diào)試步驟，使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡(jiǎn)單。
豐富的可選附件：自動(dòng)六聯(lián)比色架等多種附件可供選擇，儀器測(cè)量功能更加廣泛。
可選配UV-Solution3.0工作軟件，可進(jìn)行多種測(cè)試（光譜掃描、導(dǎo)數(shù)光譜）等功能。
型 號(hào) | UV2800 | UV2800S |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束 | 雙光束 |
光譜帶寬 | 1.8nm | 0.5、1、1.8、4nm |
波長(zhǎng)范圍 | 190～1100nm | 190～1100nm |
波長(zhǎng)最大允許誤差 | ±0.3nm | ±0.3nm |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | ≤0.2nm | ≤0.2nm |
光度范圍 | T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs C:0～9999 | T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs C:0～9999 |
透射比最大允許誤差 | ±0.3%T | ±0.3%T |
透射比重復(fù)性 | ≤0.1%T | ≤0.1%T |
雜散光 | ≤0.05%T(220nm、340nm處) | ≤0.05%T(220nm、340nm處) |
基線平直度 | ±0.001A | ±0.001A |
漂移 | ≤0.0005A/h(500nm處) | ≤0.0005A/h(500nm處) |
噪聲 | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) | 100%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T) |
顯示器 | 320×240大屏幕LCD(6英寸) | 320×240大屏幕LCD(6英寸) |
外形尺寸 | 540x445x230(mm) | 540x445x230(mm) |
